RJL Micro & Analytic GmbH
Classification des particules par SEM-EDS

«Découvrez les sources de contamination»

L'origine des particules résiduelles peuvent être déterminées avec précision par classement du matériau.
Ainsi, vous êtes capable de purger les sources de contamination du procédé de production.

Automatisés SEM-EDS instruments exécutent le typage des particules rapidement

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Exemple: SiO2 abrasifs

 

Avantages

 

Comment ça marche

 

Plus d'informations

 

 

SEM image et EDS spectre de abrasifs de silicium dioxyde

 

Avec SEM-EDS, la taille
et le matériau classe des
particules résiduelles est
déterminée en une seule
étape.

Comme le faisceau
d'électrons est focalisé
très fin, même les plus
petites particules < 1 µm
sont facilement détectés
et mesurés avec la plus
grande précision.

La connaissance de la
composition matérielle
des particules par EDS
permet de déterminer
les sources possibles
de contamination.

 

Le faisceau d'électrons est
balayé sur la membrane. Les
particules sont détectées par
les électrons qui sont rétro-
diffusés à la surface.

Dès qu'une particule est
reconnu, la dimension sera
mesurée par SEM. Dans le
même temps, le spectre de la
caractéristique rayons X sera
enregistrée (EDS). À partir
du spectre, la composition
élémentaire est calculée
automatiquement.

Après cela, le matériau de
particule est classé en faisant
correspondre avec une base
de données.

 

Télécharger l'analyse
exemple au format
PDF (80 kB)  ExampleAnalysis.pdf

Découvrez les SEM-
EDS systèmes faites
par Aspex dédiés à
l'analyse automatisé
des particules.  Aspex

Pour l'analyse de la
propreté, envoyer
vos pièces dans
notre laboratoire
accrédité.  service analytique

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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